上海局长孙殿义赴杭州RFID研发中心考察生存

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日期： 10:14:06来源：物联中国 点击：501次 核心提示：孙殿义一行重点参观了中心“RFID创新与应用体验馆”，听取了中心主任孙晓玮关于中心基本情况、建设历程和在研项目的汇报，了解了中心目前项目进展情况，对中心的产业化前景表示看好。

9月6日上午，中科院院地合作局局长孙殿义一行在中科院上海分院院长助理、科技合作处处长田申荣，中科院上海微系统所党委书记、副所长齐鸣，所长助理兼杭州中心主任孙晓玮，杭州市经信委高新处处长王明兴，上城区科技工业基地党工委书记王敏雄等有关领导陪同下，到中科院杭州射频识别技术研发中心考察调研。 孙殿义一行重点参观了中心“RFID创新与应用体验馆”，听取了中心主任孙晓玮关于中心基本情况、建设历程和在研项目的汇报，了解了中心目前项目进展情况，对中心的产业化前景表示看好。 随后，孙殿义一行调研了中心RFID综合测试平台，了解了测试平台的设备引进情况和测试能力，对测试平台的先进性给予了充分肯定，希望中心能继续发挥平台优势，完善平台建设，提升服务能力，更好地发挥中科院技术优势，为杭州地方经济和社会发展服务。 出处：物联中国 郑重声明：本文仅代表作者个人观点，与物联中国()无关。其原创性以及文中陈述文字和内容未经本站证实，对本文以及其中全部或者部分内容、文字的真实性、完整性、及时性本站不作任何保证或承诺，请读者仅作参考，并请自行核实相关内容。